宁波旗辰仪器有限公司
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日本日置LCR测试仪IM3536
日本日置LCR测试仪IM3536的DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品,测量频率DC,4Hz~8MHz,测量时间:*快1ms,基本精度:±0.05% rdg,1mΩ以上的精度保证范围,日本日置LCR测试仪IM3536也可安心进行低阻测量,可内部发生DC偏压测量,从研发到生产线活跃在各种领域中。
日本日置LCR测试仪IM3536的主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。
日本日置LCR测试仪IM3536的基本参数
测量模式 |
LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量) |
测量参数 |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
测量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定) |
显示范围 |
Z:0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ) |
测量频率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
测量信号电平 |
[V模式, CV模式]的[通常模式] |
DC偏压 |
发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
输出阻抗 |
通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
显示 |
彩色TFT5.7英寸,触摸屏 |
功能 |
比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
接口 |
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
体积及重量 |
330W × 119H × 230D mm,4.2 kg |
附件 |
电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1 |